有価証券報告書-第36期(令和2年4月1日-令和3年3月31日)

【提出】
2021/06/24 9:00
【資料】
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【項目】
109項目

沿革

1985年5月東京都新宿区に㈱ホロンを設立 資本金33,000千円
1985年11月東京都狛江市にテクニカルセンターを設立
1986年10月電子ビーム微小寸法測定装置(ESPA-11)を開発・発表
1989年12月電子ビーム微小寸法測定装置をモデルチェンジし、ESPA-21を発表
1992年9月電子ビーム微小寸法測定装置をモデルチェンジし、ESPA-31を発表
1995年12月電子ビーム微小寸法測定装置をモデルチェンジし、ESPA-51を発表
1996年3月テクニカルセンターを狛江市から埼玉県所沢市に新設・移転
1997年12月電子ビーム微小寸法測定装置をモデルチェンジし、ESPA-61を発表
1998年12月マスク用電子ビーム微小寸法測定装置EMU-200、-300を開発・発表
ステンシルマスク検査技術(特許)を確立、発表
1999年1月EMU-200を海外に出荷開始
12月磁気ヘッド形状測定装置EMR-100を完成
電子ビーム微小寸法測定装置をモデルチェンジし、ESPA-71を発表
2000年12月マスク用電子ビーム微小寸法測定装置をモデルチェンジし、EMU-220、-330を発表
2002年9月マスク用電子ビーム微小寸法測定装置、海外向けバージョンとしてEMU-220Aを発表
2003年4月EMU-220A、海外に出荷開始
本社ビル移転(東京都新宿区は変わらず)
2004年4月韓国支店を開設
10月マスク用電子ビーム微小寸法測定装置EMU-250を開発・発表
2005年2月株式会社ジャスダック証券取引所に上場(現 東京証券取引所JASDAQ)
8月マスク用電子ビーム微小寸法測定装置EMU-270を開発・発表
2006年11月LED(発光ダイオード)生産用パターン転写装置電子スタンパーEBLITHOを開発・発表
2009年1月マスク用電子ビーム微小寸法測定装置EMU-270Aを開発・発表
7月本社を東京都新宿区から埼玉県所沢市に移転
8月NEDO助成事業に2件採択「電子ビーム式次世代パターン高速検査装置の開発」「シームレスモールドステッパー製作とその実デバイス量産性能評価」
2010年11月EMUシリーズをモデルチェンジし、Z7を発表
12月ロールモールド評価用SEM(Roll-SEM)を開発
2011年2月nano tech大賞2011 微細加工技術部門賞を受賞(Roll-SEM)
2013年5月NEDO助成事業に採択「大気開放型SEMを組み込んだ大型ロール検査装置の開発」
11月EDS分析のLEXa-7を発表
2014年5月NEDO助成事業に採択「NILナノパターンの観察計測ができる高分解能CD-SEMの開発」
2015年12月ウエハ用CD-SEM ESPA-3000シリーズを開発・発表
2016年3月品質マネジメントシステムISO9001認証取得
2017年1月デバイス用マスクCD-SEMをモデルチェンジし、ZXを発表・発売開始
フォトマスク用DR-SEMの高機能版LEXa-10HRを発表
2018年6月株式会社エー・アンド・デイの連結子会社となる